optris 推出全新高温双色红外测温仪
温度范围300°C至3500°C
温度监控和质量控制
Optris的PI 640i红外摄像机配备了全新显微镜光学系统
“电子元件的结构越来越小，设计也非常紧凑。Optris推出适用于PI 640i红外热像仪的新型显微镜光学元件，即使用于芯片级结构，也能以高精度的几何分辨率精确测量温度
高温导致电子元件和组件的寿命缩短。这是由于许多半导体材料在高温下加速老化。例如，增加接触电阻导致电气连接不良就会造成这种情况。然而，在处理器等复杂的半导体元件内部，温度也可能升高。
在微米级别的分辨率下进行温度测量
搭载新型2倍放大率的MO2X显微镜光学元件，Optris的PI 640i红外热像仪现在甚至能够捕捉复杂结构的红外图像。
为了精确测量温度，需要4×4像素（MFOV），因此现在可以测量尺寸仅为34 µm的物体。也就是说，即使是芯片级的微小结构，也能够进行精确分析。80 mK的热分辨率对于该光学元件而言是相当出色的。新型光学元件的调焦功能使其能够在距离被测物体15 mm的范围内工作。
由于PI系列红外热像仪上的光学元件可轻松更换，因此该系统可以灵活用于各种测量任务。搭配随附的带微调功能高质量显微镜支架，可轻松检测微电子组件。红外热像仪的最大分辨率为640 x 480像素，帧率为32 Hz，即使提高到125 Hz，PI 640i仍能以640 x 120像素进行成像。
交付范围包括免许可证PIX Connect分析软件；此外，还提供完整的软件开发工具包（SDK）。
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